Аннотация: Метод дифракции отраженных электронов в области материаловедения

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.
Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области.
Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.

Серия	Мир физики и техники
Год выпуска	2014
ISBN	978-5-94836-385-1
Производитель	Техносфера
Дата выпуска	2014 г.
Количество томов	1
Количество страниц	544
Переплет	твердый
Размеры	240x170 мм
Стандарт	3
Возрастная категория	16+
Вес	690