Аннотация: Трёхмерная электронная микроскопия в реальном времени. Учебное пособие

Книга написана двумя признанными авторитетами в области физической химии и биологии - проф. Ахмедом Зевайлем из Калифорнийского Технологического Института и проф. Джоном Томасом из Оксфордского Университета.
Учебное пособие посвящено последним достижениям в электронной микроскопии, которые позволяют современным ученым проводить наблюдения субнанометровых объектов и химических реакций не просто в 3D пространстве, но ещё и в динамике, фиксируя в реальном времени сам процесс перемещения атомов и их взаимодействия друг с другом. Рассмотрены физические принципы, позволяющие проводить прямое наблюдение органических и неорганических объектов на атомарном масштабе и их поведения в ультракоротких временных диапазонах.
На конкретных примерах рассмотрены возможности визуализации объектов с использованием как отдельных методов электронной микроскопии, так и их сочетания, что в свою очередь существенно повышает информативность и достоверность получаемых данных.
Основная идея авторов - показать, что электронная микроскопия микро- и наномира, даже в самых, казалось бы, фантастических задачах и исследованиях, не ограничивается более лишь статичной картинкой, позволяя ученым заглянуть гораздо глубже, как в пространственных масштабах, так и в динамике.
Книга будет чрезвычайно полезной и интересной для всех специалистов и, в том числе, для студентов, чьи профессиональные интересы так или иначе связаны с нанотехнологиями.

Автор/составитель	Зевайль Ахмед, Томас Джон
Год выпуска	2013
ISBN	978-5-91559-102-7
Производитель	ИД Интеллект
Дата выпуска	2013 г.
Количество томов	1
Количество страниц	376
Переплет	мягкий
Размеры	145x215 мм
Вес	390