Аннотация: Технология производства и контроль качества наноматериалов и наноструктур. Учебное пособие
Учебное пособие содержит краткие сведения о технологиях производства наноматериалов и наноструктур, методах контроля кристаллической структуры и размеров нанокристаллитов, методах контроля электронной структуры и типа химических связей в наноматериалах, а также типа и концентрации точечных дефектов в наноматериалах. Соответствует требованиям федеральных государственных образовательных стандартов высшего образования последнего поколения. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлениям подготовки бакалавров 11.03.04 «Электроника и наноэлектроника», 28.03.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника» и направлениям подготовки магистров 11.04.04 «Электроника и наноэлектроника», 28.04.01 «Нанотехнологии и микросистемная техника».
| Автор/составитель | Сигов Александр Сергеевич, Капустин Владимир Иванович |
| Серия | Высшее образование. Бакалавриат |
| Год выпуска | 2019 |
| ISBN | 978-5-16-013806-0 |
| Производитель | Инфра-М |
| Издательство | Инфра-М |
| Количество томов | 1 |
| Количество страниц | 244 |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Размеры | 215x147x16 мм |
| Цвет | Белый |
| Тип бумаги | офсетная (60-220 г/м2) |
| Формат | 60x90/16 (145x215 мм) |
| Стандарт | 1 |
| Вес | 328 |
| Область образования | техника, электротехника, промышленность |
| Тип материала | учебное пособие |
| Язык | русский |
