Аннотация: Труды ИОФАН. Том 66. Структурные фазовые переходы в хемосорбированных слоях

Рассмотрены физические механизмы структурных превращений в слоях адсорбированных галогенов на поверхности металлов (Ag, Cu, Au) и полупроводников (Si, GaAs), и проведен анализ наблюдаемых в эксперименте двумерных фазовых переходов. Представлены экспериментальные результаты, полученные методом сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии в условиях сверхвысокого вакуума в широком диапазоне температур (5-300 К). Обсуждаются результаты взаимодействия галогенов с полярными гранями кремния и арсенида галлия.
Сборник предназначен для научных сотрудников, инженеров, аспирантов и студентов, специализирующихся в области физики/химии поверхности и сверхвысоковакуумного аналитического оборудования.

Серия	Труды ИОФАН
Год выпуска	2010
ISBN	978-5-02-037473-7
Производитель	Наука
Издательство	Наука
Количество томов	1
Количество страниц	202
Переплет	Мягкая обложка
Размеры	235x162x8 мм
Цвет	Белый
Тип бумаги	офсетная (60-220 г/м2)
Тип крепления	клеевое (КБС - клеевое бесшовное соединение)
Наличие иллюстраций	рисунки
Тип иллюстраций	черно-белые
Формат	70x100/16 (170x240 мм)
Стандарт	2
Вес	284
Язык	русский