Google 
Аннотация: Основы математической метрологии
В монографии представлены основы теории математических моделей объектов, условий, процедур и средств измерений. Дан формализованный аппарат описания моделей объектов и процедур, свойств результатов и погрешностей результатов измерений. Представлено базовое алгоритмическое обеспечение метрологического анализа типовых процедур измерений. Книга предназначена для метрологов и специалистов-измерителей, ориентирующихся на использование современных информационных технологий, преподавателей, аспирантов и студентов вузов соответствующих специальностей.
| Автор/составитель | Цветков Эрик Иванович |
| Год выпуска | 2005 |
| ISBN | 5-7325-0793-0 |
| Производитель | Политехника |
| Издательство | Политехника |
| Количество томов | 1 |
| Количество страниц | 510 |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Размеры | 221x147x25 мм |
| Цвет | Синий |
| Тип бумаги | офсетная (60-220 г/м2) |
| Формат | 60x90/16 (145x215 мм) |
| Стандарт | 8 |
| Вес | 634 |
| Язык | русский |
Бесплатная Доставка по Европе (EU)*
*Для заказов свыше 40, - евро Подробнее
Основы математической метрологии
- Производитель: Политехника
- Модель: MYSH4823212
- ISBN: 5-7325-0793-0
- Наличие:
-
Срок доставки: 21 день
- (5 оценок)
