Google 
Аннотация: Нанометрология. Монография
Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.
| Автор/составитель | Сергеев Алексей Георгиевич |
| Год выпуска | 2012 |
| ISBN | 978-5-98704-494-0 |
| Производитель | Логос |
| Издательство | Логос |
| Дата выпуска | 2012 г. |
| Количество томов | 1 |
| Количество страниц | 416 |
| Переплет | мягкий |
| Размеры | 217x143x20 мм |
| Цвет | Синий |
| Тип бумаги | офсетная (60-220 г/м2) |
| Формат | 60x90/16 (145x215 мм) |
| Стандарт | 10 |
| Вес | 538 |
| Язык | русский |
