Аннотация: Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии
Освещаются методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов. Рассмотрены меры по обеспечению единства измерений в Российской Федерации, ведущие тенденции развития нанотехнологий за рубежом и в России, обосновано формирование инфраструктуры центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии. Описаны методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии. Раскрыты прикладные вопросы метрологического обеспечения реализованных проектов в отдельных областях наноиндустрии в рамках Федеральной целевой программы "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008-2011 годы". Для специалистов центров стандартизации и метрологии, метрологических служб предприятий, поверителей, сотрудников санитарно-эпидемиологической службы, проходящих переподготовку и приобретающих дополнительную квалификацию в Академии стандартизации, метрологии и сертификации Росстандарта. Будет полезна студентам вузов, получающим образование в области нанотехнологий и нанометрологии.
| Автор/составитель | Крутиков Владимир Николаевич, Анашина О. Д., Андрюшечкин О. Д. |
| Год выпуска | 2011 |
| ISBN | 978-5-98704-613-5 |
| Производитель | Логос |
| Издательство | Логос |
| Количество томов | 1 |
| Количество страниц | 592 |
| Переплет | Твёрдый переплёт |
| Размеры | 221x151x35 мм |
| Цвет | Оранжевый |
| Тип бумаги | офсетная (60-220 г/м2) |
| Формат | 60x90/16 (145x215 мм) |
| Стандарт | 10 |
| Вес | 848 |
| Язык | русский |
