Google 
Аннотация: Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ или EBSD) был разработан относительно давно на основе метода картин каналирования электронов в растровых электронных микроскопах (РЭМ), но широкое практическое применение данного метода в научных и прикладных исследованиях началось лишь в середине 90-х годов прошлого века. Развитие данного метода было неразрывно связано с успехами в компьютерной технике и высокочувствительных цифровых камер, поскольку максимальный эффект от его применения мог быть получен только при высоком быстродействии систем регистрации дифракционных картин и быстрой компьютерной обработке полученной цифровой информации. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ), используемый в растровом электронном микроскопе (РЭМ) в качестве дополнительного аналитического метода, позволяет на поверхности массивных поликристаллов без труда определять ориентации отдельных зерен, локальную текстуру, корреляцию ориентаций между точками и идентифицировать фазы и двумерные распределения фаз по поверхности образца.
| Автор/составитель | Шварц А., Кумар М., Адамс Б., Филд Д. |
| Серия | Мир физики и техники |
| Год выпуска | 2014 |
| ISBN | 978-5-94836-385-1 |
| Обложка | твердый переплет |
| Дата выпуска | 2014 г. |
| Количество томов | 1 |
| Количество страниц | 544 |
| Переплет | твердый |
| Размеры | 240x170 мм |
| Стандарт | 3 |
| Возрастная категория | 16+ |
| Вес | 690 |
Бесплатная Доставка по Европе (EU)*
*Для заказов свыше 40, - евро Подробнее
Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
- Модель: MYSH1843879
- ISBN: 978-5-94836-385-1
- Наличие:
-
Срок доставки: 21 день
- (9 оценок)
