Бесплатная Доставка от 65,- €

Аннотация: Метод дифракции отраженных электронов в области материаловедения

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.
Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области.
Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.

Читать далее →

Бесплатная Доставка по Европе (EU)*

*Для заказов свыше 40,- евро  Подробнее

Метод дифракции отраженных электронов в области материаловедения

  • Модель: MYSH4964600
  • ISBN 978-5-94836-385-1
  • Наличие:
    Нет в наличии
  • 4.4 (9 оценок)
Loading
Loading

Описание

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ.
Перевод на русский язык второго оригинального издания книги «Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении» является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области.
Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.

Характеристики

Мы доставляем наши товары по всей Европе, включая страны ЕС, в том числе по Латвии, Эстонии, Литве, Германии, Италии, Франции, Нидерландам (Голландии), Бельгии, Австрии, Польше, Финляндии, Ирландии, Чехии, Швеции, Дании, Португалии, Греции, Болгарии, Словакии, Кипру, Словении, Венгрии, Люксембургу, Мальте, Румынии, Хорватии, а также по Израилю, Соединённым Штатам Америки (США), Великобритании, Швейцарии, Канаде, Норвегии. Подробнее...