Google 
Аннотация: Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».
| Автор/составитель | Потапов Леонид Алексеевич, Дракин Александр Юрьевич, Зотин Виталий Федорович |
| Серия | Учебники для ВУЗов. Специальная литература |
| Год выпуска | 2021 |
| ISBN | 978-5-8114-3312-4 |
| Производитель | Лань |
| Издательство | Лань |
| Дата выпуска | 2018 г. |
| Количество томов | 1 |
| Количество страниц | 284 |
| Переплет | твердый |
| Размеры | 130x200 мм |
| Формат | 84x108/32 (130x200 мм) |
| Вес | 380 |
Бесплатная Доставка по Европе (EU)*
*Для заказов свыше 40, - евро Подробнее
Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов
-15%- Производитель: Лань
- Модель: MYSH4689243
- ISBN: 978-5-8114-3312-4
- Наличие: Есть в наличии
-
Срок доставки: 21 день
- (6 оценок)
-
39.51€ 33.58€
Во-первых - Вы молодец!
