Аннотация к книге: Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».

Автор/составитель	Потапов Леонид Алексеевич, Дракин Александр Юрьевич, Зотин Виталий Федорович
Серия	Учебники для ВУЗов. Специальная литература
Год выпуска	2021
ISBN	978-5-8114-3312-4
Производитель	Лань
Издательство	Лань
Дата выпуска	2018 г.
Количество томов	1
Количество страниц	284
Переплет	твердый
Размеры	130x200 мм
Формат	84x108/32 (130x200 мм)
Вес	380