Аннотация к книге: Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография
В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям «Радиотехника», «Инфокоммуникационные технологии и системы связи», «Конструирование и технология электронных средств», «Электроника и наноэлектроника», «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи», «Электро- и теплотехника».
Автор/составитель | Дракин А.Ю., Зотин В.Ф., Потапов Л.А. |
Год выпуска | 2018 |
ISBN | 978-5-8114-3312-4 |
Обложка | твердый переплет |
Дата выпуска | 2018 г. |
Количество томов | 1 |
Количество страниц | 284 |
Переплет | твердый |
Размеры | 130x200 мм |
Формат | 84x108/32 (130x200 мм) |
Вес | 380 |
Бесплатная Доставка по Европе (EU)*
*Для заказов свыше 40, - евро Подробнее
Контроль параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов. Монография
- Модель: MYSH3284991
- ISBN: 978-5-8114-3312-4
- Наличие: