Google 
Аннотация: Измерения и контроль в микроэлектронике
| Издательство | Высшая школа |
| Автор/составитель | Дубовой Н. Д., Осокин В. И., Очков А. С. |
| Год выпуска | 1984 |
| ISBN | BBUK317296 |
| Обложка | Твердый |
| Вес | 400г |
| Возрастная категория | 0+ |
Пособие для студентов специальностей электронной техники. Главы: Измерение, контроль и испытания ИМС (интегральных микросхем). Основные понятия и опредения; Технология производства ИМС; Контрольно-измерительные операции при производстве ИМС; Методы измерения и контроля параметров технологических сред, полупроводниковых пластин, эпитаксиальных и полупроводниковых структур; Общие методы измерения и контроля электрических параметров ИМС, Технические (аппаратные) средства автоматических систем измерения и контроля электрических параметров ИМС; Программное обеспечение автоматических систем измерения и контроля электрических параметров ИМС; Методы контроля цифровых ИМС; Методы контроля аналоговых ИМС; Методы контроля ИМС ЦАП и АЦП; Примеры автоматического оборудования контроля ИМС. Схемы, графики, таблицы, формулы. Список литературы - 19 названий.
Бесплатная Доставка по Европе (EU)*
*Для заказов свыше 40,- евро Подробнее
Измерения и контроль в микроэлектронике
- Производитель: Высшая школа
- Модель: BBUK317296
- ISBN BBUK317296
-
Наличие:
Есть в наличии
Во-первых - Вы молодец!
