Аннотация: Исследование параметров и характеристик полупроводниковых приборов с применением интернет-технологий
В книге рассмотрены задачи, методы и особенности автоматизированного лабораторного практикума с удаленным доступом (АЛП УД) по исследованию полупроводниковых приборов. Приведено описание реализующей его системы АЛП УД "Электроника", в том числе входящего в ее состав аппаратно-программного комплекса (АПК) "Электроника", разработанного на основе технологии корпорации National Instruments в региональном инновационном центре "Центр технологий National Instruments" при ФГОУ ВПО "Сибирский федеральный университет". Приведены задания и методические указания к лабораторным работам по экспериментальному исследованию и моделированию полупроводниковых диодов, стабилитронов, полевых и биполярных транзисторов, включающие измерение их вольтамперных характеристик и параметров, исследование технологического разброса и работы на переменном токе.
Издание предназначено для студентов и учащихся технических специальностей вузов, колледжей, профессиональных училищ и лицеев для использования в лабораторном практикуме дисциплины "Электроника" и других родственных дисциплин, выполняемом на базе сетевой лаборатории Сибирского федерального округа с помощью АПК УД "Электроника".
Автор/составитель | Егоров Николай Михайлович, Глинченко Александр Семенович, Комаров Владимир Александрович |
Серия | Все о LabVIEW |
Год выпуска | 2014 |
ISBN | 978-5-97060-139-6 |
Производитель | ДМК-Пресс |
Издательство | ДМК-Пресс |
Количество томов | 1 |
Количество страниц | 352 |
Переплет | Мягкая обложка |
Размеры | 200x141x19 мм |
Цвет | Белый |
Тип бумаги | офсетная (60-220 г/м2) |
Формат | 70x100/16 (170x240 мм) |
Стандарт | 12 |
Вес | 408 |
Язык | русский |