Аннотация к книге: Инженерные основы измерений нанометровой точности

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемости измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс.
Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей.

Автор/составитель	Лич Ричард
Год выпуска	2012
ISBN	978-5-91559-119-5
Производитель	ИД Интеллект
Количество томов	1
Количество страниц	400
Переплет	Твёрдый переплёт
Размеры	215x157x23 мм
Цвет	Чёрный
Тип бумаги	офсетная (60-220 г/м2)
Вес	510
Язык	русский