Аннотация: Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем

В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надежность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие "электронного функционала" и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надежность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также ее ничтожную достоверность в случае оценки надежности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель. Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.

Автор/составитель	Куликов Игорь Валентинович
Год выпуска	2017
ISBN	9785732511154
Производитель	Политехника
Издательство	Политехника
Количество томов	1
Количество страниц	172
Переплет	Мягкая обложка
Размеры	234x165x10 мм
Цвет	Синий
Тип бумаги	офсетная (60-220 г/м2)
Формат	70x100/16 (170x240 мм)
Стандарт	30
Вес	284
Язык	русский