Бесплатная Доставка от 65,- €

Аннотация: Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем

В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надежность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие "электронного функционала" и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надежность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также ее ничтожную достоверность в случае оценки надежности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель. Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.

Читать далее →

Бесплатная Доставка по Европе (EU)*

*Для заказов свыше 40,- евро  Подробнее

Функциональная устойчивость сверхбольших интегральных схем

-37%
  • Производитель: Политехника
  • Модель: MYSH4823242
  • ISBN 9785732511154
  • Наличие:
    Есть в наличии
  • 4.3 (8 оценок)
9.35€ -37%
5.89€
Нашли этот товар по более низкой цене?
Во-первых - Вы молодец!
Просим Вас сообщить нам:

Мы проверим данные, и если информация подтвердится мы снизим цену на товар

Loading
Loading

Описание

В монографии рассмотрена проблема оценки качества сверхбольших интегральных схем (СБИС). Прогресс в их изготовлении не обеспечен методологией оценки результатов испытаний на надежность как свойства высокого качества. Для решения данной проблемы вводится понятие "электронного функционала" и предлагается учитывать показатель его функциональной устойчивости, который определяет вероятность динамического явления, а именно сбоя выходных сигналов СБИС. Критически рассматривается возможность ускорения тепловых испытаний на надежность компонентов электронной техники, включая лимит адекватности термодинамической модели старения Аррениуса для дискретных компонентов, а также ее ничтожную достоверность в случае оценки надежности СБИС по функциональному критерию. Для прогноза ресурса СБИС предложена линейная регрессионная модель. Книга рассчитана на научных работников в области разработок СБИС, проектировщиков и испытателей электронной компонентной базы и аппаратуры, аспирантов и студентов по данной специализации, а также может заинтересовать широкий круг соответствующих специалистов в других областях техники.

Характеристики

Мы доставляем наши товары по всей Европе, включая страны ЕС, в том числе по Латвии, Эстонии, Литве, Германии, Италии, Франции, Нидерландам (Голландии), Бельгии, Австрии, Польше, Финляндии, Ирландии, Чехии, Швеции, Дании, Португалии, Греции, Болгарии, Словакии, Кипру, Словении, Венгрии, Люксембургу, Мальте, Румынии, Хорватии, а также по Израилю, Соединённым Штатам Америки (США), Великобритании, Швейцарии, Канаде, Норвегии. Подробнее...