Аннотация к книге: Нанометрология. Монография

Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено основным метрологическим операциям - поверке и калибровке. Материал по сканирующей зондовой микроскопии изложен на основе семи современных стандартов, введенных в 2008-2009 гг. Описаны организационные принципы нанометрологии, системы Гостехрегулирования через сеть региональных отделений вновь созданного Центра метрологического обеспечения нанотехнологий и отраслевых научно-исследовательских институтов. Приведен перечень вузов, работающих в сфере наноиндустрии, и указаны основные направления их исследований в данной области. Для ученых, инженеров и других специалистов, разрабатывающих проблемы нанометрологии. Может использоваться в учебном процессе вузов при подготовке кадров в сфере нанотехнологий, метрологии и технического регулирования, а также в магистратуре и аспирантуре в этих научно-технических областях.

Автор/составитель	Сергеев Алексей Георгиевич
Год выпуска	2012
ISBN	978-5-98704-494-0
Производитель	Логос
Издательство	Логос
Дата выпуска	2012 г.
Количество томов	1
Количество страниц	416
Переплет	мягкий
Размеры	217x143x20 мм
Цвет	Синий
Тип бумаги	офсетная (60-220 г/м2)
Формат	60x90/16 (145x215 мм)
Стандарт	10
Вес	538
Язык	русский