Аннотация к книге: Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
Монография посвящена особенностям конструкции современных просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), спектроскопии потерь энергии электронов (СПЭЭ), энергодисперсионной электроннозондовой рентгеновской спектроскопии (ЭДС), а также цифровым системам регистрации изображений, в том числе на основе цифровых ПЗС камер и системам на основе электронно-стимулированной фотолюминесценции (IP-системам), устанавливаемых на современные ПЭМ. Даны подробные описания аналитических методик и интерпретации полученных результатов.
В книге представлен новейший метод трехмерной томографии с помощью ПЭМ и метода ALCHEMI для анализа дефектов замещения в кристаллах. Также изложены прикладные методы для анализа магнитных материалов, метод электронной голографии.
Настольная книга материаловеда.
| Автор/составитель | Синдо Д., Оикава Т. |
| Серия | Мир материалов и технологий |
| Год выпуска | 2006 |
| ISBN | 5-94836-064-4, 978-5-94836-064-5 |
| Обложка | твердый переплет |
| Дата выпуска | 2006 г. |
| Количество томов | 1 |
| Количество страниц | 256 |
| Переплет | твердый |
| Формат | 60x90/16 (145x215 мм) |
| Тираж | 3000 |
| Стандарт | 12 |
| Вес | 367 |
| Область образования | медицина, здравоохранение |
| Тип материала | научные издания, теории |
Бесплатная Доставка по Европе (EU)*
*Для заказов свыше 40, - евро Подробнее
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия
- Модель: MYSH177803
- ISBN: 5-94836-064-4
- Наличие:
